Orbit

年度 2008
全部作者 C.T. Lee, K.T. Lee and J. Gong
論文名稱 Electrical Characterization of High-k Anodic Aluminum Oxide Gate Dielectrics on Gallium Nitride Substrate MOS Capacitors
會議名稱 215th ECS Meeting, San Francisco, USA
地點 Other
會議開始時間 2009-05-01
會議結束時間 2009-05-01
論文類型 會議論文,口頭報告
論文等級 Others
主辦單位 USA.
著作人數 3