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年度 2011
全部作者 C.-L. Chu, C.-M. Hu, J. Gong, C.-F. Huang, C.-L. Tsai, F.-Y. Chen, R.-H. Liou, and H.-C. Tuan
論文名稱 Investigation of voltage-dependent drift region resistance on high-voltage drain-extended MOSFETs’ I-V characteristics
期刊名稱 Electronics Letters
卷數 48
期數 2
期刊等級 SCI
發表日期 2012-01-01
語言 中文