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年度 2008
全部作者 R.Y. Su, P.Y. Chiang, J. Gong, T.Y. Huang, C.L. Tsai, C.C. Chou and C.M. Liu
論文名稱 Investigation on the Initial Hot Carrier in Jection in P-LDMOS Transistors with Shallow Trench Isolation Structure
期刊名稱 IEEE Transactions on Electron Devices
卷數 Vol.55
期數 No.12
起頁 3569
迄頁 3574
期刊等級 SCI
總頁數 6
發表日期 2008-12-01